在二次元影像測量儀上的測量均是單軸或二維平面坐標(biāo)的測量,測量時(shí)先對焦,后對準(zhǔn),在讀數(shù)(計(jì)數(shù)),最后計(jì)算處理。讀數(shù)來自于標(biāo)尺即光柵系統(tǒng),對焦對準(zhǔn)依靠顯微鏡光學(xué)系統(tǒng),還有一個(gè)直接影響測量效果和精度的照明光源,因?yàn)椋谟跋穹椒y量的儀器,如果被測件不能被有效正確的照明,則測量的結(jié)果顯然要偏離其真實(shí)尺寸。除前述因素外,環(huán)境條件也是制約測量精度不可忽視的因素?;谏鲜龇治觯梢詺w納一下幾個(gè)方面的誤差來源。
1)光柵計(jì)數(shù)尺的誤差;
2)工作臺(tái)移動(dòng)時(shí)存在的直線度、角擺帶來的誤差;
3)工作臺(tái)兩測量軸垂直度帶了的誤差;
4)顯微鏡光軸與工作臺(tái)不垂直帶了的誤差;
5)測量室溫度帶來的誤差;
6)光源照明條件的變化帶來的對焦和對準(zhǔn)誤差。
在這幾種因素中,前四項(xiàng)誤差,是硬件誤差,在儀器制造過程中已經(jīng)形成并固定下來,一般無法改變,溫度影響帶來的誤差,必須通過控制測量室的溫度和等溫過程來減小其影響。
最后一項(xiàng)則常被忽視,而在實(shí)際測量中,當(dāng)光源照明條件改變時(shí),直接影響被測工件的照明效果和影像質(zhì)量,主要是因?yàn)?/span>二次元影像測量儀的圖像是通過CCD接收,盡管CCD具有自動(dòng)調(diào)節(jié)增益的功能,但當(dāng)亮度過大時(shí)即失去調(diào)節(jié)功能,導(dǎo)致被測工件影像在縮小,當(dāng)亮度過低時(shí),工件影像反而變大。
這種影響,對于測量具有重復(fù)圖形結(jié)構(gòu)之間的間距時(shí),只要整個(gè)測量過程中照明條件保持不變,其影響可以忽略,因?yàn)槊總€(gè)重復(fù)圖形結(jié)構(gòu)都同時(shí)在變大或者變小,間距的測量計(jì)算直接消除了影像變形的影響,如測量玻璃尺、網(wǎng)格板刻線間距;除了這種特殊情形外,如測量圓的直徑、工件的長度和寬度,都將帶來明顯的誤差。
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